在晶圓上而非封裝內(nèi)測(cè)試 Si 和GaN/SiC 器件時(shí)，研發(fā)工程師和測(cè)試操作員面臨著收集高精度數(shù)據(jù)的一些挑戰(zhàn)。其中包括需要在高電壓下抗電弧的探針和系統(tǒng)、用于高電流的低電阻探針和晶圓接觸，以及對(duì)薄晶圓的特殊處理。同時(shí)，對(duì)“快速獲取準(zhǔn)確數(shù)據(jù)”的需求需要快速輕松地設(shè)置復(fù)雜的高功率測(cè)試配置，同時(shí)考慮到操作員和設(shè)備。Keysight的緊密集成儀器完善了系統(tǒng)，以提供測(cè)量精度和可重復(fù)性。

來(lái)自 FormFactor 的預(yù)先驗(yàn)證、交鑰匙、綜合、集成的測(cè)量系統(tǒng)為重要的測(cè)試應(yīng)用提供安心和即時(shí)、開(kāi)箱即用的生產(chǎn)力。

這些是免費(fèi)提供的。FormFactor 的 IMS 解決方案不包括Keysight定價(jià)或集成費(fèi)用的加價(jià)。

這個(gè)功率半導(dǎo)體器件表征系統(tǒng)建立在研發(fā)儀器領(lǐng)域和分析探針系統(tǒng)領(lǐng)域——FormFactor IMS-K-Power 的基礎(chǔ)之上。

配備 Keysight PDA 的全面、交鑰匙集成測(cè)量系統(tǒng) (IMS) 用于晶圓上研發(fā)功率半導(dǎo)體器件特性測(cè)量

業(yè)界有效率、準(zhǔn)確的功率半導(dǎo)體器件表征系統(tǒng)

實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量測(cè)量的更快、更經(jīng)濟(jì)的途徑